摘要红外焦平面阵列在红外成像技术中有着广泛的应用，但是其各阵列元器件响应的非均匀性严重限制了红外成像系统的成像质量，因此，实时的非均匀性校正是红外焦平面阵列应用的关键技术之一。65156

本文首先分析了红外图像非均匀性的特征和产生的原因，以及非均匀性校正的应用和意义。对目前比较成熟的几种校正方法、特别是两点校正法进行了研究、总结。。并且用红外焦平面的非均匀性两点校正法对其进行校正，对校正计算过程进行了详细描述，同时对校正效果进行了比较和评价。最后通过MATLAB软件进行仿真。

毕业论文关键词：红外焦平面阵列，非均匀性校正，算法

Abstract

IRFPA is widely used in infrared imaging technology，but the nonuniformity from IRFPA greatly limits the infrared image quality，So，real-time nonuniformity correction is one of the key technologies in the application of IRFPA．

At first of this paper，the features and causations of non—uniformity in infrared imaging systems and sense of the scene—based NUC are described．Several basic methods of non-uniformity correction(NUC) for FPA，especially the two—point methods are studied. Two—point compensation technique(TPNUC) are discusses and empirical are provided in the article. And at last I simulation on him by MATLAB.

摘要 4

1 引言 1

1.1红外成像技术简介 1

1.2 红外成像技术的发展现状和前景 1

1.3 红外焦平面非均匀性的产生和影响 2

1.4 本章小结 3

2 红外成像系统和焦平面非均匀性 4

2.1 红外成像系统介绍 4

2．2红外焦平面的非均匀性 6

2．3红外焦平面非均匀性的成因 7

2．4非均匀性成因的具体分析和特征 9

2.5本章小结 10

3 红外焦平面阵列非均匀性校正的方法 11

3.1 校正方法介绍 11

3.2温度定标校正法 12

3.3 基于场景的非均匀性校正算法 19

3.4 本章小结 21

4 算法实现及其仿真 21

4.1 一点校正过程： 21

4.2一点校正法的结构 21

结论 23

致谢 24

参考文献 25 

1 引言

1.1红外成像技术简介

  最初是由英国的物理学家威廉.赫谢尔在1800年利用水银温度计制作了最原始的热敏探测器发现了红外辐射，自此以后，人们就开始寻求各种更简单准确的方法来检测红外辐射。在第二次世界大战时期，一个德国人利用红外变像管作为光电转换器，发明了主动成像夜市仪和通信设备。红外线作为红外辐射的一种，属于电磁波，和无线电波和可见光的本质相同，这次的发现对科学的发展起了很大的促进作用，为红外辐射的发展带来崭新的一页。红外线根据它的波长范围的不同又可分为近红外（0.76-3um），中红外(3-6um)，远红外(6-15um)，极远红外（15-1000nm）这四大类。红外辐射是一种由自然界产生的比较普遍的电磁波辐射，由于任何温度高于绝对零度的物体内部的分子和原子都会做无规则的运动产生碰撞辐射出能量，分子和原子的运动越剧烈，则产生的红外辐射的能量越大，反之则越小。 红外成像非均性校正方法研究及其实现:http://www.751com.cn/tongxin/lunwen_72639.html