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FTA故障树法电子部件失效模式分析

时间:2021-02-25 20:40来源:毕业论文
从电子部件中各组成元器件着手,取某子弹的起爆电路作为研究对象。利用FMECA故障模式、影响及危害性分析法结合FTA故障树法结合分析,从理论上分析出可能的储存失效模式、相应失效

摘要现如今,电子部件已经成为现代武器装备中的重要组成部分。电子部件中的任何一个元器件在储存、运输或者使用过程出现失效,都可能会引起整个武器装备的瘫痪。因此研究电子部件在储存过程中的失效模式变得尤为重要。63502

本文从电子部件中各组成元器件着手,取某子弹的起爆电路作为研究对象。利用FMECA故障模式、影响及危害性分析法结合FTA故障树法结合分析,从理论上分析出可能的储存失效模式、相应失效机理以及对各种失效模式的危害度进行评估。最后,设计并进行了一系列可靠性强化实验,进一步验证了失效分析的结果,初步总结出了电子部件在储存过程中失效模型。

毕业论文关键词:电子部件;失效模式;储存;可靠性强化实验

 毕业设计说明书(论文)外文摘要

Title    Failure Mode Analysis of Electronic Components   

Abstract Nowadays, electronics has become an important part of modern weaponry. Any one component’s failure in the process of storage, transport or use may cause paralysis of the entire weaponry. So studding electronic components’ failure mode during storage becomes a particularly important thing 

This paper started from the electronic parts components. And we take the detonating circuit of one bullet as the object of this study. With using FMEA and FTA law as a tool, we can analysis the possible failure modes in storage, and get the corresponding failure mechanism from the theoretical, which can help assess degrees of hazard. Finally, we designed and conducted a series of experiments about strengthen reliability, to further validate the results of failure analysis. At last we get failure model the electronic components during storage.

Keywords:  Electronic Components; Failure Mode ; Storage Period ; RET 

 1 绪论 1

1.1  本论文的背景及意义 1

1.2  本论文的主要方法和研究进展 1

1.3  本论文的主要内容 3

1.4  本论文的结构安排 3

2 电子部件的相关信息 4

2.1  电子部件的组成 4

2.2  电子部件的各部分的功能分析 5

2.3  电子部件储存环境分析 6

3 元器件储存失效模式、失效机理及失效率 8

3.1  影响元器件储存可靠性的因素 8

3.2  电子部件中元器件储存期主要失效模式及失效机理 8

3.3  电子部件中元器件非工作失效率 9

3.4  失效模式及失效率总述 17

4 失效分析 18

4.1  失效模式、影响与危害性分析(FMECA) 18

4.2  FMECA与FTA综合分析(FTF) 22

5 可靠性强化试验及分析 24

5.1  试验目的 24

5.2  失效判据 24

5.3  试验内容 24

5.4  试验结果及分析 FTA故障树法电子部件失效模式分析:http://www.751com.cn/zidonghua/lunwen_70023.html

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