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存储测试技术研究现状和发展趋势

时间:2020-12-03 21:33来源:毕业论文
存储测试技术概述存储测试技术是指在测试中对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下,在被测物体内置入微型存储测试装置,在现场实验时完成数据快速采集与存储,实验测试完

存储测试技术概述存储测试技术是指在测试中对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下,在被测物体内置入微型存储测试装置,在现场实验时完成数据快速采集与存储,实验测试完成后回收测试装置,测得的数据由计算机处理和再现的一种动态测试技术。存储测试的主要技术特点:在实验现场快速实时进行信号采集记录,测试完成后回收处理及信号的再现。实现存储测试技术的关键在于能否研制一个能在测量环境下正常工作的并且对被测物体工作基本无影响或者影响很小的数据采集存储测试装置。相对于通过弹丸引线传输测试,存储测试的测试范围不受引线长度的约束,可以完成对弹丸飞行运动参数的全程记录,测试装置实现重复使用。存储测试系统结构原理可归结为图1.2所示:存储测试系统主要完成数据的采集存储工作;系统电源负责对测试系统进行供电,保证系统在数据采集及数据保存电能的供应;保护模块部分主要负责装置免受测量环境的干扰;地面处理设备主要功能是在装置使用前对装置进行检验、参数设定等,在装置回收后对存储器中的数据进行处理显示[11]。60252

存储测试结构

图1.2 存储测试结构

存储测试现状及发展趋势

存储测试技术与现代科学技术有着密切联系,存储测试的设计思路源于电子计算机的信息存储技术,随着中大规模CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)高速存储器的出现,存储测试有了实现的可能。随着电路集成水平的不断提高,存储测试系统的性能也不断增强,其应用的范围不断变得宽泛,发挥越来越大的作用。

在国外,对存储测试技术进行研究是从20世纪70年代末期开始的,80年代,Louis R.Szabo提出了“应用于弹丸测试的先进数字存储测试仪器”的概念,总结了存储测试仪与无线电遥测仪在性能方面的差异,研究了存储测试可能出现的问题及实现途径,论文网指出存储测试技术具有装置不需设置发射天线、结构较为简单、体积小、可重复多次使用、功耗低等优点,Louis R.Szabo等人还研制三种不同类型的存储测试装置 [12]。

国内从80年代开始,存储测试技术有着快速的发展,技术逐步发展至成熟;刘致安等在1983年提出了存储遥测的概念,对引信数据的存储测试方法进行了研究,并预测了随着中大规模集成技术的发展提高,将出现以存储为主要特点的新型测试方法[13]。华北工学院通过运用存储测试成功地获取火箭的加速度时间曲线[14],这是国内第一次成功应用存储测试技术进行测试。

随着存储测试技术的发展,其应用领域已从飞行体的动态数据测试比如火炮弹丸参数、运载火箭相关参数测试、引信参数测试、导弹参数测试等,扩展到齿轮啮合应力的测试、活塞温度场的测试、应力场的测试、发动机扭矩的测试和车辆动力系统输出功率的测试等的存储测试[15]。随着当前微型机电系统技术的发展,存储测试技术进入了一个新的发展阶段,存储测试系统正向存储容量超大、系统结构模块化和系统工作智能化方向发展。

存储测试技术研究现状和发展趋势:http://www.751com.cn/yanjiu/lunwen_65680.html
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