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XRD和XAFS技术在测定晶体物质结构构的误差分析研究

时间:2018-11-02 20:57来源:毕业论文
制备不同浓度的Mn摻杂SiC薄膜,然后再用X射线衍射,得到X射线衍射图谱,分析衍射图谱得出Mn掺杂SiC薄膜内部结构的一些性质。随后用XAFS技术对Mn摻杂SiC薄膜精细结构进行进一步的分析

摘  要:随着科技的发展,人们渴望对物质有更深的认识,希望得到物质内部的微观结构,在这样的情况下,就促进了X射线衍射(X-ray Diffraction简称XRD)技术和X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure简称XAFS)技术的快速发展。本文首先制备不同浓度的Mn摻杂SiC薄膜,然后再用X射线衍射,得到X射线衍射图谱,分析衍射图谱得出Mn掺杂SiC薄膜内部结构的一些性质。随后用XAFS技术对Mn摻杂SiC薄膜精细结构进行进一步的分析,确定Mn掺杂到SiC薄膜内的存在形式,加深对Mn摻杂SiC薄膜结构了解。29914
毕业论文关键词:精细结构;X射线衍射;XRD技术;XAFS技术
Error Analysis of The Crystal Structure of Matter in The Determination of XRD And XAFS Techniques
Abstract: With the development of technology, people's desire for a deeper understanding of the material, hoping to get inside the microstructure of the material, in this case, on the promotion of the X-ray diffraction (X-ray Diffraction referred XRD) and X-ray absorption fine structure spectrum (X-ray Absorption Fine Structure referred XAFS) rapid development of technology. This paper was prepared Mn-doped with different concentrations of SiC film, and then use the X-ray diffraction to obtain X-ray diffraction pattern, diffraction pattern analysis to draw some properties of Mn-doped SiC film internal structure. Followed by XAFS techniques for Mn-doped SiC film of fine structure for further analysis to determine the presence of Mn-doped SiC film form within deepen film structure of Mn-doped SiC understanding.
Key Words: Fine structure; X-ray diffraction; XRD technology; XAFS technology
目    录
摘要    1
引言    1
1.XRD技术    2
1.1XRD技术简介    2
    1.2Mn参杂SiC薄膜的厚度    2
    1.3Mn掺杂SiC薄膜的晶体结构    3
2. XAFS技术    4
2.1XAFS技术简介    4
2.2XAFS现象    4
2.3用XAFS技术分析摻杂薄膜结构    5
    2.4Mn的K边XAFS分析    5
    2.5Mn的K边EXAFS分析    6
3.总结    7
参考文献    8
致谢    9
 XRD和XAFS技术在测定晶体物质结构的误差分析研究  引言
    X 射线( X-ray) 又称伦琴射线。在1895年德国物理学家伦琴发现了它。X射线产生的原理:原子的电子在不同的能级上,由于受到激发而跃迁,从而产生电子流形成X射线。X射线的波长很短,介于紫外线和γ射线之间,大约在0.01-100埃之间。X射线是一种电磁波,并且看不到,具有较高的辐射性和穿透性,能穿透很多薄的、不透明的物体。人们起先利用这个特性做医学成像和别的一些科学研究。用X射线照射某些物质,还可以使它们产生一些特殊的的现象,比如可以产生可见的荧光。伦琴射线根据波长的长短可以分为硬X射线和软X射线两种。波长短(波长小于0.1埃)、能量大的被叫做硬X射线;波长长(波长在0.1-100埃之间),能量小的被叫做软X射线。由于伦琴射线有许多特殊的性质,促进了科学家对其研究的热情,随着研究的不断深入,科学家利用伦琴射线较强的穿透能力对晶体进行X射线衍射实验,可以很清楚的了解到晶体内部的结构,使人们对晶体内部的结构有了更清晰的了解,并且为人们研究晶体提供了一个新的实验方法。随着对伦琴射线的衍射图谱进一步研究发现,在特定的能量点,X射线的的吸收系数会急剧的增加,这个点被人们叫做吸收边,在吸收边之后,X射线衍射图谱出现了一系列的微小振动,一般大约为吸收截面的百分之几,这个特征就是XAFS,叫做X射线吸收精细结构。 XRD和XAFS技术在测定晶体物质结构构的误差分析研究:http://www.751com.cn/wuli/lunwen_25364.html
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