全文共五章： 第一章为绪论，提出了本课题的研究背景和意义，并简要介绍了国内外侵彻测试系统的

发展现状以及未来的发展趋势。 第二章为存储测试系统简介，简要介绍了本次设计的基本思路， 第三章为硬件电路设计，主要介绍了存储测试系统的电路设计以及原件选型的方案。 第四章为中心控制部分设计，主要介绍了控制芯片的选型，周边模块设计以及编程方案。 第五章为实验部分，介绍了部分重要实验。

2 存储测试系统简介

2.1 存储测试技术概况以及优点[14]

存储测试技术是先进的侵彻测试技术中最为先进的一种，它可以在弹体上独立完成对被 测信号的数据采集和存储，实时完成信息的采集和记录。在实验结束后，将系统记录的数据 和信息进行回收和分析，便于对侵彻过程的研究。存储测试系统具有体积小，能胜任绝大多 数高冲击测试的数据采集的优点。来!自~751论-文|网www.751com.cn

2.2 存储测试系统的组成。

存储测试系统的组成如图 2.1 所示。信号被压电传感器所感知，传入调理电路。调理电 路可以对接收到的信号进行放大、滤波等处理，使之变为适合 A/D 变换的信号。在 A/D 变换 部分中，A/D 变换模块通过采样的方式将连续的信号变为离散的数字量，采样所得的数字量 传入存储电路中保存起来，在实验结束之后通过数据接口电路传入计算机中，通过软件对冲 击信号进行还原和显示。

图 2.1 存储测试系统的组成

3 硬件电路设计

3.1 硬件电路基本设计思路

在一般的侵彻存储测试系统的设计思路的基础上