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YAG晶体性能测试+文献综述(7)

时间:2016-12-27 20:31来源:毕业论文
稀土掺杂YAG 晶体生长几个难点:熔点高、稀土掺杂结晶分凝系数远小于1(导晶 体各部位掺杂不匀、高浓度掺杂困难,析晶率低,生长层),散射。 YAG 晶


稀土掺杂YAG 晶体生长几个难点:熔点高、稀土掺杂结晶分凝系数远小于1(导晶
体各部位掺杂不匀、高浓度掺杂困难,析晶率低,生长层),散射。
YAG 晶体生长几个容易点:除了掺杂元素,基本为同成分生长,不容易开裂。现有生长方法中各有明显优缺点。在不过分追求生长高质量的YAG情况下如何探索大批量、低成本、易操作的生长工艺具有挑战性。(1)泡生法:产量大,但温度梯度低以及现有坩埚用钨坩埚是否适合有待考证。泡生法一般原料全部长完,由于掺杂分凝下部的偏析是否影响开裂也需考虑。现有的小炉子投料为25kg,试验费不小。(2)热交换法:可能有类似TGT法情况。(3)焰熔法:稀土掺杂一般是3价,生长过程用高纯氧,是否引起变价。
 
2 实验
 2.1 实验方案设计
(1)制备原材料,采用提拉法制备Ce:YAG晶体。
(2)将晶体沿(111)面切割成尺寸为15×15×3mm3,两面抛光。
(3)发射光谱的测量在SUIMADZUUV-2501(PC)S光谱仪上进行,采用疝灯作为激发源,狭缝宽度为5nm,测量波长范围为450~700nm。
(4)激发光谱用Detector,R928-P PMT测量。
  2.2 实验仪器和设备
(1)日本理学D/max2200PC型X射线衍射仪
该仪器具有测试角度广,精确度高,自动化程度高,抗干扰能力强等特点。它可以用于样品的定性或定量分析,晶体结构分析,材料的结构宏观应力测定,晶粒大小测定和结晶度测定。X射线粉末衍射仪是一种灵敏度高、非破坏性的测量分析仪器。该仪器可适用化学、物理、材料科学与工程、环境科学与技术、采矿、制药、新能源和环保等学科的科学研究。衍射条件:管电压为40KV,管电流为4mA,步长扫描范围为10~90º,步长0.02 º,扫描速度10º/min, scan axix 2θ/θ。如图9所示为日本理学D/max2200PC型X射线衍射仪。
图9 日本理学D/max2200PC型X射线衍射仪
(2)SETRAM公司的LabsysTM综合热分析仪
    本实验使用SETRAM公司生产的LabsysTM综合热分析仪(如图10)对析晶样品进行相变温度测定。
 
图10 LabsysTM综合热分析仪
(1)马弗炉
本实验所用马弗炉为上海祖发实业有限公司制造的A3型高温实验电炉,如图11。其最高使用温度为1200℃,额定功率为10KW,额定电压为220V。炉膛尺寸为400×300×300。
     
图11 高温实验电炉
(4)电子天平
为了保证本原料配比的精确性,本实验采用万分之一天平精确称量所需原料。精密电子天平如图12所示。

  图12精密电子天平
(5)DF-1015 集热式磁力加热搅拌器
在本实验中,需要使用铂金片盛样品进行烧结,而对于铂金片的清洗,需要将其放入稀盐酸中煮沸。本实验使用如图13所示的DF-1015 集热式磁力加热搅拌器来进行加热和搅拌。
 图13 DF-1015 集热式磁力加热搅拌器    
 2.3 样品制备    
    Ce3+:YAG晶体采用提拉法生长,装置是陕西机械学院生产的SJ -78型单晶炉。采用光谱纯的Al 2O3、Y2O3、CeO2粉末作为原料。原料配比按下式计算:
2xCeO2 + ( 3- x )Y2O3 + 5Al2O3→2Y3- xCexAl 5O12 + 1/ 2x O2
 依据掺杂浓度的不同, x 取不同的值。由于Ce3+离子的半径(0.1283nm)与Y3+离子的半径(0.1159nm)相差较大[11], Ce3+取代Y3+比较困难,而且取代后晶格的畸变较大, 因此太大的熔体浓度会使长出的晶体浓度过高,内部应力大,缺陷较多, 从而难以保证晶体质量。尤其是生长出大尺寸、光学性能均匀的Ce3+:YAG单晶存在一定的困难。我们取x为0.15左右(约合质量分数为0.4%)。首先将原料经高温烧结后生成多晶化合物。在烧结过程中部分Ce离子由四价变成三价。 YAG晶体性能测试+文献综述(7):http://www.751com.cn/cailiao/lunwen_1605.html
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