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轴向过载加速度测试方法国内外研究现状综述(2)

时间:2020-12-29 19:01来源:毕业论文
二十世纪90年代中期,根据现代微电子技术的发展水平,在分析传统遥测系统存在问题基础上,利用当时最为先进的非易失快速可编程只读存储技术,美国

二十世纪90年代中期,根据现代微电子技术的发展水平,在分析传统遥测系统存在问题基础上,利用当时最为先进的非易失快速可编程只读存储技术,美国陆军采用特殊的封装技术,研制出一种抗高过载的弹丸飞行数据存储记录器(FDR),具有抗冲击能力强、体积小、数据采样率高、容量大、工作温度范围广等特点[9]。

1989年由中北大学研制的“电子测压蛋”作为新一代膛压测试仪,采用先进的电子存储测试技术,不需引线、钻孔,能够自动测量且测试精度高,达到了世界先进水平,填补了我国在测试技术领域的空白。1990年,在第一届全国电子技术应用研讨会上,祖静提出了“存储测试技术”这个名词,并进行了详细论述。

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