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STM32单片机超声波测距系统的设计与实现+源程序(5)

时间:2016-11-25 22:12来源:毕业论文
(2) 声阻抗 声波从一种介质传播到另一种介质,在两个介质的分界面上一部分超声波被反射,另一部分透射过界面,在另一种介质内部继续传播。这样的



(2) 声阻抗
声波从一种介质传播到另一种介质,在两个介质的分界面上一部分超声波被反射,另一部分透射过界面,在另一种介质内部继续传播。这样的两种情况称之为声波的反射和折射。
由物理学可知,当波在界面上产生反射时,入射角的正弦之比等于波速之比,当入射波和反射波的波型相同时,波速相同,入射角度等于反射角。当波在界面处产生折射时,入射角的正弦与折射角的正弦之比,等于入射波在第一介质中的波速与折射波在第二介质中的波速之比,即
                                (2.2)
超声波在两种介质的界面上的反射能量和透射能量的变化,取决于这两种介质的声阻抗之比。声阻抗定义为传声介质的密度P与声速C的乘积,用z表示。它是介质固有的一个常数,它的数值对超声波在介质中的传播非常重要,单位为瑞利(rayl)。
空气和钢铁的声阻抗相差甚远,垂直入射到空气和钢铁界面上的超声波几乎被反射。

(3) 声衰减
 超声波在弹性介质中传播时,会发生能量的衰减,其产生原因可分为三个面:
(1)由于波前的扩展而产生的能量损失;
(2)超声波在介质中的散射而产生的能量损失,即散射衰减;
(3)由于介质内耗所产生的吸收衰减。
在平面波的情况下,距离声源x处的声压P和声强I的衰减规律为
    式中   ——距离声源x=0处的声压;
           ——距离声源x=0处的声强;
          ——衰减系数,Np/cm(奈培/厘米)。
下面简要介绍吸收衰减和散射衰减。
    1)吸收衰减。声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成的质点之间的内摩擦,从而使一部分声能转变为势能;同时,由于介质的热传导,介质的稠密和稀疏部分之间进行热交换,从而导致声能的损耗,这就是介质的吸收现象。通常由于介质的吸收引起的超声波的衰减叫做粘滞衰减。
    2)散射衰减。超声波在介质中传播遇到障碍物,当阻碍物的尺寸与超声波长可相比或更小时会产生散射衰减。产生散射衰减的因素很多,总的说来是由于介质阻抗的不连续性造成的。可分为两种情况,一是材料本身的不均匀,如具有不同密度和声速的两种材料的交界面,金属锻件中的杂质和气孔、晶体材料的各向异性等等;另一种是晶粒尺寸可以与超声波波长相比的粗晶粒材料,入射的超声波在晶界的反射散乱使得声能变为热能而损耗,这叫做晶粒散射。在多品金属材料中,晶粒散射往往是超声波衰减的主要原因之一。
介质的声衰减是很复杂的物理量。声衰减绝对值的测量比较烦琐,一般是测量的精度高。当所要测的介质特性与声速关系不明显时可用声衰减法。在媒质中含有散射粒子时,选择适当高的频率往往可使散射衰减成为衰减中的主要因素,于是通过对衰减量的测量可反映散射粒子的大小和多少、球墨铸铁的球化程度、泥浆的浓度等量都可利用这种原理来测量。

2.1.2   测距方法简介
常见的超声波测距原理和方法主要有脉冲回波法和相位差法两种。
Pellam 和Galt 于1946年提出了脉冲回波法,其工作原理是:用超声脉冲激励超声探头向外辐射超声波,同时接收从被测物体反射回来的超声波(简称回波),通过检测或估计从发射超声波至接收回波所经历的射程时间ToF (Time of Flight),按下式计算超声波探头与被测物体之间的距离d,即 STM32单片机超声波测距系统的设计与实现+源程序(5):http://www.751com.cn/tongxin/lunwen_341.html
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