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GammaClib面源样品的活度测量方法研究(3)

时间:2018-08-30 09:34来源:毕业论文
2.3 无源效率刻度法 无源效率刻度在本质上是一种基于蒙特卡罗模拟计算和点源刻度技术,发展形成的放射性测量的刻度技术。它通过 数学 计算得到探测


2.3 无源效率刻度法
无源效率刻度在本质上是一种基于蒙特卡罗模拟计算和点源刻度技术,发展形成的放射性测量的刻度技术。它通过数学计算得到探测器空间各点的点源探测效率,然后通过找到特征点并使用最小二乘法拟合出能量-效率曲线。无源效率刻度是一项因为放射性探测的急切需求以及探测仪器的技术进步而催生的一项新技术。它巧妙地弥补了有源刻度效率方法的不足之处,快速和精确测量的最佳选择[8]。
3 无源效率刻度法简介
3.1 无源效率刻度法的原理
无源效率刻度法本质上是光子在宏观介质中的能量沉积和运动过程的计算问题,它原则上可以采用蒙特卡洛方法解决。通过蒙特卡洛方法抽样,模拟几乎可以得到光子寿命过程的所有信息,蒙特卡洛方法是解决粒子输运过程问题的通用方法[9]。然而因为无源效率刻度计算的是一定能量的光子的直穿物体的能量沉积,在探测器以外假如光子与物质发生了相互作用,则这个光子就不能属于伽玛能谱的全能峰,所以,在无源效率刻度计算中,探测器以外的部分是不需要采用蒙特卡洛方法模拟的,基于以上思想,在无源效率刻度方面又发展了数值积分方法[10]。 GammaClib面源样品的活度测量方法研究(3):http://www.751com.cn/huaxue/lunwen_22141.html
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